Mikrochips sind aus modernen Elektrogeräten nicht mehr wegzudenken. Um ihre Funktionstüchtigkeit sicherzustellen und allfällige Defekte frühzeitig zu erkennen, werden sogenannte Halbleitertests durchgeführt. Die dafür erforderliche Hardware erhält man bei der T.I.P.S. Messtechnik GmbH. Bereits 2015 hat das Kärtner Unternehmen dafür ein optisches Nadelmesssystem eingeführt. In Zusammenarbeit mit der Silicon Austria Labs GmbH ist es so gelungen, bisher manuell durchgeführte Messabläufe zu automatisieren und den Herstellungsprozess für gebogene Prüfnadeln zu optimieren. Das kamerabasierte Nadelmesssystem erkennt die Kontur der Prüfnadeln automatisch und gibt sowohl für die Eingangskontrolle des Rohmaterials als auch die Überprüfung der konfektionierten Prüfnadeln entsprechende Messwerte aus.
Um die Prozesskontrolle weiter zu automatisieren und zu verbessern, ging man im Rahmen des EDIH Applied CPS kürzlich erneut eine Entwicklungskooperation mit Silicon Austria Labs ein. Im Zuge des Projekts wurde ein zweites Backup-System mit verbesserter Hardware aufgebaut. Auf eine manuelle Aufzeichnung von Messwerten kann nun gänzlich verzichtet werden. Die neu gestaltete Eingabemaske ermöglicht es den Mitarbeiter*innen zudem, den Messvorgang schneller zu starten.
„Anhand des Projekts konnten wir unseren langjährigen Partner T.I.P.S. bei der Digitalisierung ihrer Prozessschritte unterstützen“, zieht Markus Zauner, der zuständige Projektleiter bei Silicon Austria Labs, positive Bilanz, zumal auch die Kennzahlen deutliche Produktivitätssteigerungen belegen. Und doch dürfte der Zenit noch nicht erreicht sein: „Die Realisierung weiterer Optimierungsschritte steht bereits in den Startlöchern“, verrät Markus Zauner mit Blick in die Zukunft.